Machine à mesurer tridimensionnelle (CMM) Mitutoyo

Inspection dimensionnelle de large taille de haute précision

• Déplacements : X : 1 605 mm · Y : 3 005 mm · Z : 1 105 mm
• Résolution : 0,1 µm
• Exactitude volumétrique : 6,0 µm

Systèmes de palpage

• Renishaw PH10MQ : Têtes indexables motorisées permettant de repositionner le palpeur de manière répétable pour l’inspection de géométries complexes et la réduction des repositionnements.
• Système multi-capteurs Renishaw REVO-2 : Système de palpage 5 axes à haute vitesse offrant des capacités de mesure tactile et scanning pour inspection dimensionnelle avancée avec gain de productivité
• Capteur de rugosité SFP2 intégré au REVO-2 permettant la mesure du fini de surface directement sur la CMM sans changer de machine

Logiciels

• MCOSMOS – Suite logicielle Mitutoyo pour programmation, acquisition, analyse et reporting des mesures CMM
• MODUS – Logiciel avancé pour systèmes REVO-2
• Innovmetric PolyWorks|Inspector – Analyse 3D & comparaison géométrique. Solution polyvalente pour analyse de nuages de points, GD&T, comparaison 3D CAO-pièce, rapports interactifs et inspection avancée multi-sources